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一、 電容器損耗與檢測

 電容器的損耗由介質損耗和金屬部分損耗組成。介質損耗是由介質本身決定，即由介質薄膜的性能——漏導引起的。當使用頻率很低時，電容器的損耗主要由介質損耗決定。其值隨頻率上升而成反比下降。

 （漏導：任何電介質都不是理想的絕緣體，在電場的作用下，總有一定的電流流過，這種電流很小，稱作漏導電流或漏導。）

 金屬部分損耗，其公式為：tgδ=ωcRs=2πfcRs(R為電容器等效串聯電阻)，因而當使用頻率很高時，金屬部分損耗為主要損耗。Rs由電容器引出線電阻、極板電阻、極板與引出線之間連接引起的接觸電阻總和。如果連接不好，接觸電阻較大，那么電容器在高頻情況下的損耗就很大。使得電容器在高頻情況下使用，發熱嚴重，導致損壞。因而使用頻率較高時，須用高頻測試，剔除端面接觸不良者。盡量消除使用時的潛在危險。而用低頻1KHz就不能很好有效地剔除接觸不良者。況且，CBB類1KHz損耗指標為≤0.0003，數值偏小，有時測試儀表之間的誤差可能達到0.0002。因而，建議對用在使用頻率較高的燈上時，至少用10KHz測試，指標≤0.0010，更有把握。我公司在給上海光達照明公司、深圳垅運（中電）照明公司等生產燈和鎮流器的廠家供貨，都用10KHz檢測，多年來，保證了它們完好無損的使用。

二、電容器耐壓與檢測

 薄膜電容器介質的厚度是以其額定電壓大小來選取的，即介質厚度決定著額定電壓的大小，其工作電壓，在頻率適宜的情況下，一般應不大于額定電壓。而瞬時承受電壓，即耐電壓，按國際國內標準大測試電壓為2倍電壓，重復進行耐電壓試驗對電容器有損傷，因而過高的耐電壓超過介質薄膜的承受有力，會損傷介質對電容器也是不利的。經過我們多年的試驗，這些潛在的危險，會減少其使用壽命。因而建議客戶給出的電容器耐電壓指標應不大于2倍。而且在這種條件下，電容器廠家為了更好地保證客戶使用，還要高于2倍進行內控，但這些余量我們也是靠增加介質厚度來保證的。如果客戶給大于2倍甚至3倍的指標，那我們仍要加嚴，這樣無限制的加下去，對電容器是一種損害，對照明產品也是一種損害，即使當時生產、檢測過程中沒有體現出來，但是卻為日后用戶的使用埋下了隱患，這對電容器供應商，照明產品制造商及消費者三方都是不利的。因為我們共同的目標就是滿足消費者的使用。

三、金屬化內串電容器與箔式內串電容器的區別

 1.電容器的好壞，除用容量、損耗、絕緣、耐壓四個基本參數衡量檢測外。它的耐脈沖電壓沖擊和承受電流大小等性能也是需要考慮的。在燈的電路中使用的電容器這兩點更需要注意。鑒于這兩點性能的考慮，腳距為10的體積較小的金屬化內串不好腳距為15體積較大的箔式內串的結構，因為金屬化內串結構的極板與引出的連接端面是介質薄膜，而該連接部位的接觸電阻較大，加脈沖時，瞬間流過的電流很大，引起發熱，而塑料薄膜介質不耐熱，遇熱收縮，造成端面接觸惡化，使等效串聯電阻更大，如此，惡性循環，會很快使薄膜電容失效，而鋁箔做端面的肉串結構，端面極板與引出線相連接的部分是金屬鋁，金屬耐熱，因而加上脈沖，有大電流流過時，產生的熱量不會使其收縮，仍能保證端面良好的接觸。所以，從耐脈沖擊角度考慮，箔式內串分壓結構優于金屬化內串結構。

 2.電流流過的路徑是極板、接觸端面、引出線這幾個金屬部分及其連接處，在引出線相同，不考慮接觸電阻的情況下，金屬化電極的電阻要大于箔式電極電阻兩個數量級。因為金屬化電極是在介質薄膜表面蒸鍍上一層薄薄的金屬鋁，其厚度不過0.05～0.1um。而鋁箔的厚度為6um，因而，金屬化電極極電阻要遠大于箔式電極的電阻，使得金屬部分的損耗大于箔式。尤其是頻率較高時，在流過電流相同時，金屬化電極發熱遠大于箔式電極。因而使用頻率較高、電壓較大時，不宜采用金屬內串結構的電容。

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